残留オーステナイト 測定はできません。続き

X線での残留オーステナイト測定では解決できない問題がありサービスを提供していません。

1. 集合組織の影響が考慮できない。
2. バックグラウンドノイズの影響を把握できない。
3. X線の到達範囲の表面の測定で妥当かの判断ができない。

現状でこれをすべて解決すると思われる装置は、茨城県の材料構造解析装置iMATERIAで、

1. 集合組織と残留オーステナイトの迅速測定が同時にできます。
2. 十分強度のある中性子を使うのでバックグラウンドノイズの影響も少ないし材料全体の測定ができます。
3. X線では２個のピークから残留オーステナイトを計算しますが、iMATERIAは、15個のピークで計算しますので高精度です。

手間と時間はかかりますが、試料をまとめると思ったほど高くないのご検討されてはいかがでしょうか。